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高性能X射線(xiàn)熒光測試儀 |
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| 型 號：XDV -SDD |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：可自動(dòng)測量超薄鍍層和分析痕量元素 |
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達州高性能X射線(xiàn)熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer
高性能X射線(xiàn)熒光測試儀，涂層測厚儀圖片，配有可編程XY平臺和Z軸，濟南涂層測厚儀培訓，可自動(dòng)測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
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高級型號儀器，涂層測厚儀原理，具有常見(jiàn)的所有功能
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射線(xiàn)激發(fā)量的靈活性最大，電鍍層測厚儀，激發(fā)量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
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通過(guò)硅漂移探測器，壁厚儀，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計數率） 的超高信號量下也可以正常工作，噴涂層測厚儀，而不會(huì )出現能量分辨率的降低
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極低的檢測下限和出色的測量重復度
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帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動(dòng)測量?jì)x器
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大容量便于操作的測量艙
典型應用領(lǐng)域
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測量極薄的鍍層，表面涂層測厚儀，例如應用于電子和半導體行業(yè)中
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痕量分析，涂層測厚儀多少錢(qián)，例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
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進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
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光伏產(chǎn)業(yè)
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測量 NiP 鍍層的厚度和成分
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