|
|
|
表面粗糙度、輪廓形狀一體測量?jì)x |
|
| 型 號：SV-C3200/SV-C4500 |
| 品 牌：日本三豐Mitutoyo |
技術(shù)指標：測量范圍 X 軸 (驅動(dòng)部) 100mm
Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm |
 |
果洛表面粗糙度、輪廓形狀一體測量?jì)x-SV-C3200/SV-C4500-日本三豐Mitutoyo
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統
通過(guò)更換檢測器，三豐粗糙度儀價(jià)格，一臺機器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機 ，同時(shí)能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產(chǎn)品特點(diǎn)
|
• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時(shí))。
|
|
• X軸內置高精度玻璃光柵尺，time粗糙度儀，直接讀取X軸移動(dòng)距離，mitutoyo粗糙度測試儀，在高精度精準定位下，粗糙度輪廓測量?jì)x，完成間距參數的評價(jià)。
|
|
• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
|
|
|
|
•
Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實(shí)現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新測臂使Z1
軸測量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，無(wú)錫粗糙度儀，提高了易用性。
|
• 專(zhuān)為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專(zhuān)用功能。
裝配雙錐面測針，實(shí)現垂直方向(上/下)連續測量，粗糙度測定儀，所獲取的數據實(shí)現簡(jiǎn)單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無(wú)需調整配重。
|
|
•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過(guò)簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結果。
|
|
• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量?jì)x結合在一起，美國粗糙度儀，節省安裝空間。
|
|
|
• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項專(zhuān)利權在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件，英國泰勒粗糙度儀，實(shí)現了快速更換。此外，馬爾粗糙度儀，裝卸部?jì)戎昧税踩Y構。
|
•繁瑣的校正也可以上下兩面連續一次性完成(此項專(zhuān)利權在日本受理中)
SV-C4500 系列使用專(zhuān)業(yè)校正規(標配附件)，煙臺粗糙度儀，通過(guò)改進(jìn)使得上下兩方附帶從動(dòng)件的上下圓錐測針能簡(jiǎn)便易行地進(jìn)行校正。Z1 軸增益、對稱(chēng)性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
|
產(chǎn)品規格
|
貨號
|
SV-C3200S4
|
SV-C3200H4
|
SV-C3200W4
|
SV-C3200S8
|
SV-C3200H8
|
SV-C3200W8
|
|
SV-C4500S4
|
SV-C4500H4
|
SV-C4500W4
|
SV-C4500S8
|
SV-C4500H8
|
SV-C4500W8
|
|
測量表面粗糙度時(shí)
|
|
測量范圍
|
X 軸 (驅動(dòng)部)
|
100mm
|
200mm
|
|
Z1 軸 (檢出器)
|
800μm/80μm/8μm
|
|
直線(xiàn)度
|
(0.05+L/1000) μm L: 驅動(dòng)長(cháng)度 (mm)
|
0.5μm/200mm
|
|
分辨力
|
Z1軸（檢出器）
|
0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
|
|
測力
|
0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號)
|
|
測針針尖形狀
|
60º, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
90º, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號)
|
|
對應尺寸
|
JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
|
|
評價(jià)參數
|
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
|
|
評價(jià)輪廓
|
原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動(dòng)圓波形原始輪廓、滾動(dòng)圓波形
輪廓、包絡(luò )殘余線(xiàn)、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡(luò )波紋輪廓在評
價(jià)MOTIF 時(shí)顯示)
|
|
分析圖
|
負荷曲線(xiàn)、振幅分布曲線(xiàn)、功率譜、自相關(guān)、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關(guān)、頂峰分布、
傾斜角分布、參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
|
|
曲線(xiàn)補償
|
最小平方直線(xiàn)、R 面補償、橢圓補償、拋物線(xiàn)補償、雙曲線(xiàn)補償、二次曲線(xiàn)補償、多項式
補償(自動(dòng)或任意2~7 次)、無(wú)補償
|
|
濾波器
|
高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
|
|
輪廓測量
|
|
測量范圍
|
X軸（驅動(dòng)部）
|
100mm
|
200mm
|
|
Z1軸（檢出器）
|
60mm (測臂水平位置±30mm)
|
|
直線(xiàn)度
|
0.8μm/100mm
|
2μm/200mm
|
|
精度
|
X軸（驅動(dòng)部）
|
±(0.8+0.01L)μm L: 驅動(dòng)長(cháng)度 (mm)
|
±(0.8+0.02L)μm L = 驅動(dòng)長(cháng)度 (mm)
|
|
Z1軸（檢出器）
|
SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的測量高度 (mm)
|
|
分辨力
|
X軸（驅動(dòng)部）
|
0.05 μm
|
|
Z1軸（檢出器）
|
SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
|
|
Z2軸（立性）
|
1 μm
|
|
測力
|
SV-C3200 系列: 30mN (可調使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據軟件轉換)
|
|
側頭方向
|
SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據配重調整)
|
|
通用時(shí)
|
|
Z2軸 (立柱) 移動(dòng)量
|
300mm
|
500mm
|
300mm
|
500mm
|
|
X 軸傾斜角度
|
±45º
|
|
驅動(dòng)速度
|
X 軸0
|
0 - 80mm/s 外加手動(dòng)
|
|
Z2 軸 (立柱)
|
0 - 30mm/s 外加手動(dòng)
|
|
測量速度
|
0.02 - 5mm/s
|
|
