|
|
|
X 射線(xiàn)熒光測試儀 |
|
| 型 號：XDAL |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：不適合測量十分細小的結構 |
 |
瀘州X 射線(xiàn)熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer
X 射線(xiàn)熒光測試儀，x熒光涂層測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，菲希爾mpo涂層測厚儀，可自動(dòng)測量鍍層厚度和分析材料組分
特點(diǎn)
-
配備了半導體探測器，日照涂層測厚儀應用，由于有更好的信噪比，elcometer涂層測厚儀，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
-
使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，涂層測厚儀說(shuō)明書(shū)，但因為其信號量較低，涂層測厚儀探頭，不適合測量十分細小的結構
-
底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
-
有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應用領(lǐng)域
-
鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
-
來(lái)料檢驗，mpo 涂層測厚儀，生產(chǎn)監控
-
研究和開(kāi)發(fā)
-
電子工業(yè)
-
接插件和觸點(diǎn)
-
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
-
可以測量數納米薄的鍍層，穿越涂層測厚儀，如印刷線(xiàn)路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
-
痕量元素分析
-
在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量
-
硬質(zhì)鍍層分析
|
