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高性能X射線熒光測試儀，defelsko涂層測厚儀，配有可編程XY平臺和Z軸，手持式涂層測厚儀，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素

儀器特點

• 高級型號儀器，鍍鋅層測厚儀，具有常見的所有功能
• 射線激發(fā)量的靈活性最大，壁厚儀，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
• 通過硅漂移探測器，時代涂層測厚儀，在 > 10萬cps（每秒計數(shù)率） 的超高信號量下也可以正常工作，國產(chǎn)涂層測厚儀，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
• 極低的檢測下限和出色的測量重復度
• 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
• 大容量便于操作的測量艙

典型應用領域

• 測量極薄的鍍層，非鐵基涂層測厚儀，例如應用于電子和半導體行業(yè)中
• 痕量分析，電磁涂層測厚儀，例如根據(jù) RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
• 進行高精度的黃金和貴金屬分析
• 光伏產(chǎn)業(yè)
• 測量 NiP 鍍層的厚度和成分