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技術(shù)文章
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    X 射線熒光測量系統(tǒng)
    型 號:X-RAY 5000
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術(shù)指標(biāo):在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析
    昭通X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 5000-德國菲希爾Fischer

    X 射線熒光測量系統(tǒng),北京時代涂層測厚儀,用于在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析    


    特點

    • 法蘭測量頭,涂層膜厚測試儀,用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測量
    • X射線探測器可以為比例計數(shù)管,qnix1200涂層測厚儀,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
    • 在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡單校
    • 可在真空或大氣中使用
    • 可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測量
    • 堅固和耐用是設(shè)計的重心 

    典型應(yīng)用領(lǐng)域

    • 光伏技術(shù)(CIGS,日照涂層測厚儀應(yīng)用,CIS,涂層測厚儀 北京時代,CdTe)
    • 分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
    • 連續(xù)生產(chǎn)線
    • 噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測
    • 測量大面積樣品 


    同類產(chǎn)品
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